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Accueil > Centre des produits > Circuits intégrés (CI) > Logique - Logique spécialisée > SN74ABTH18652APM
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SN74ABTH18652APM
| EXSHINE Modèle de produit: | EX-SN74ABTH18652APM |
|---|---|
| Fabricant Modèle de produit: | SN74ABTH18652APM |
| Fabricant / Marque: | Texas Instruments |
| Brève description: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
| État sans plomb / État RoHS: | Sans plomb / conforme à la directive RoHS |
| Condition: | New and unused, Original |
| Datasheet Télécharger: | SN74ABTH18652APM |
| Application: | - |
| Poids: | - |
| Remplacement alternatif: | - |
Disponibilité en temps réel pour
SN74ABTH18652APM
En stock: 32040 les pièces peuvent être expédiées sous 1 à 2 jours.
Stock futur: 12000 pièces en 7 à 10 jours.
Délai d'exécution du fabricant: 8-10 semaines
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Stock futur: 12000 pièces en 7 à 10 jours.
Délai d'exécution du fabricant: 8-10 semaines
- La description
- Paiement
- livraison
- Emballage
Paramètre du produit
| tension d'alimentation | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Package composant fournisseur | 64-LQFP (10x10) |
| Séries | 74ABTH |
| Emballage | Tray |
| Package / Boîte | 64-LQFP |
| Autres noms | 296-4137 SN74ABTH18652APMG4 SN74ABTH18652APMG4-ND |
| Température de fonctionnement | -40°C ~ 85°C |
| Nombre de bits | 18 |
| Type de montage | Surface Mount |
| Niveau de sensibilité à l'humidité (MSL) | 3 (168 Hours) |
| Délai de livraison standard du fabricant | 14 Weeks |
| Référence fabricant | SN74ABTH18652APM |
| Type de logique | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Description élargie | Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10) |
| La description | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
Autres
| Emballage normal | 160 |
|---|---|
| Autres noms | 296-4137 SN74ABTH18652APMG4 SN74ABTH18652APMG4-ND |
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EMS EXPRESS Délai de livraison: 7-10 jours. |
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