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Accueil > Centre des produits > Circuits intégrés (CI) > Logique - Logique spécialisée > SN74BCT8244ANT
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SN74BCT8244ANT
| EXSHINE Modèle de produit: | EX-SN74BCT8244ANT |
|---|---|
| Fabricant Modèle de produit: | SN74BCT8244ANT |
| Fabricant / Marque: | Texas Instruments |
| Brève description: | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
| État sans plomb / État RoHS: | Sans plomb / conforme à la directive RoHS |
| Condition: | New and unused, Original |
| Datasheet Télécharger: | SN74BCT8244ANT |
| Application: | - |
| Poids: | - |
| Remplacement alternatif: | - |
Disponibilité en temps réel pour
SN74BCT8244ANT
En stock: 19959 les pièces peuvent être expédiées sous 1 à 2 jours.
Stock futur: 12000 pièces en 7 à 10 jours.
Délai d'exécution du fabricant: 8-10 semaines
En stock: 19959 les pièces peuvent être expédiées sous 1 à 2 jours.
Stock futur: 12000 pièces en 7 à 10 jours.
Délai d'exécution du fabricant: 8-10 semaines
- La description
- Paiement
- livraison
- Emballage
Paramètre du produit
| tension d'alimentation | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Package composant fournisseur | 24-PDIP |
| Séries | 74BCT |
| Emballage | Tube |
| Package / Boîte | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Autres noms | 296-33847-5 SN74BCT8244ANT-ND |
| Température de fonctionnement | 0°C ~ 70°C |
| Nombre de bits | 8 |
| Type de montage | Through Hole |
| Niveau de sensibilité à l'humidité (MSL) | 1 (Unlimited) |
| Référence fabricant | SN74BCT8244ANT |
| Type de logique | Scan Test Device with Buffers |
| Description élargie | Scan Test Device with Buffers IC 24-PDIP |
| La description | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
Autres
| Emballage normal | 15 |
|---|---|
| Autres noms | 296-33847-5 SN74BCT8244ANT-ND |
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